دانشکده مهندسی چوب و کاغذ - دانشگاه علوم کشاورزی و منابع طبیعی گرگان

میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

آنالیز AFM با میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscopy) توانایی تصویربرداری از پستی و بلندی‌های سطح (توپوگرافی سطحی) نمونه را داراست. یکی از کاربرد‌های دیگر آنالیز AFM، اندازه گیری ضخامت پوشش‌های نانو متری است. این میکروسکوپ توانایی تصویر برداری از کلیه سطوح از جمله سطوح غیر رسانا را نیز دارد و در دو حالت تماسی و غیر تماسی تصویر برداری را انجام می‌دهد. در نتیجه برای درک ساختار سطحی یک نمونه توده‌ای نانوساختار مانند غشاها، لایه‌های نازک، قطعات الکتریکی لیتوگرافی شده، انجام آنالیز AFM بسیار تکنیک مناسبی است. دستگاه AFM مورد استفاده در این مرکز مدل FemtoScan می‌باشد.

تاریخ آخرین بروزرسانی : 09 تیر 1403 - 17:11